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- 萊特波特IQ2015藍(lán)牙測(cè)試儀
萊特波特IQ2015藍(lán)牙測(cè)試儀大幅簡(jiǎn)化復(fù)雜模組與裝置的測(cè)試流程單次插測(cè)丶多重介面丶測(cè)試科技 處理程序減少，加上省去多重裝置開(kāi)機(jī)時(shí)間，因此較多次插測(cè)方式節(jié)省20%的時(shí)間Z多可同時(shí)測(cè)試3種標(biāo)準(zhǔn) 與序列測(cè)試方法相較，Z多可減少50%的測(cè)試時(shí)間序列測(cè)試（sbt）方式可將dut控制與反應(yīng)時(shí)間降至Z低。
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- 更新日期：2023-11-17 ￥面議
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